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제품명 Normal SEM
모델명 VEGA II SBH
용도  - 재료의 미세조직 표면현상 관찰- 파단면 분석
사양 - Resolution : 3.0nm at 30kV- Accelerating voltage : 0.5 to 30kV- Magnification : x6 ~ x300,000- Specimen size : θ100 x h80mm- SE, BSE detector
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