글 작성시 사용하신
비밀번호를 입력해 주세요.
확인취소

견적의뢰&시험단가

RSP 브로슈어 다운로드

제품명 FE-SEM
모델명 HITACHI-S4800
용도  - 재료의 미세조직 관찰- 재료의 구성원소 분포 및 정성, 정량 분석- 표면형상 관찰
사양 - Probe current : 1pA ~ 2nA- Resolute : 1.0nm(15kV), 1.5nm(1kV)- Magnification : x25 ~ x800,000- Specimen size : 조각시편 ~ θ200mm
이전
   Normal SEM
다음
   회전굽힘피로시험기