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회사소개주요장비소개

제품명 FE-SEM
모델명 HITACHI-S4800
용도  - 재료의 미세조직 관찰
- 재료의 구성원소 분포 및 정성, 정량 분석
- 표면형상 관찰
사양 - Probe current : 1pA ~ 2nA
- Resolute : 1.0nm(15kV), 1.5nm(1kV)
- Magnification : x25 ~ x800,000
- Specimen size : 조각시편 ~ θ200mm
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